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简单介绍：
HemiView 数字植物冠层分析仪通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。HemiView 数字植物冠层分析仪软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等。
详情介绍：
HemiView 数字植物冠层分析仪通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的，例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息，能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。HemiView 数字植物冠层分析仪软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等。原理：使用180度鱼眼镜头和高清晰度数码相机从植物冠层下方或森林地面向上取像, 再将数码相机的高清晰度影像载入软件，进行分析处理。
HemiView 数字植物冠层分析仪技术规格：
| 图像文件类型 | BMP、JPEG、TIF、Photo CD |
| 图像分辨率 | 512×512——4368×2912（和数码相机有关） |
| 镜头变形 | 能指定多种相关天顶角和光线距离 |
| 直射光模型 | 简单的空气传递，由用户设置 |
| 散射光模型 | 统一或标准阴天 |
| 数据输出 | Excel兼容表格格式 |
| 总像素 | 1510万像素 |
| 支持图片分辨率 | 4368×2912像素 |
| 鱼眼透镜视角 | 180° |
| 存储容量 | 2GB，可扩展 |
| 可伸缩单臂支架高度 | 0.69~1.66米 |
| 三脚架高度 | 1.73米 |
| 操作温度 | +5~+55℃ |
